射频测试头可以按照哪些方式分类?
发表时间:2023/04/28
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谷连精密机械(深圳)有限公司
射频测试头,是主体沿轴向在前,后两端分别设为开放的连接端和测试端,测试端内设有沿轴向相对于前端弹性缩进的接触头,主体包括独立成型的连接段和测试段,连接端成型于连接段的后端,通过连接套在连接段的前端构成一个环形台阶面。那么大家对射频测试头的分类了解多少呢?接下来,谷连精密小编就针对这个问题来为大家介绍下。
射频测试头可以按照以下方式分类:
1、按端接方式及功能分为:
连接器 MIL-C-39012 (GJB681) 接同轴电缆
转接器 MIL-A-55339 (GJB680) 接连接器
微带与带状线MIL-C-83517 (GJB976) 接微带
2、按连接界面结构分为:
卡口式(内卡口、外卡口)
螺纹式(右旋螺纹、左旋螺纹)
推入式(直插式、带止动式、自锁式)
法兰接连式
3、按使用场合及功能分为:
通用型(2级) 一般工程应用
精密型(0级、1级) 试验室或测试用
专用型(耐辐照、耐高压、防水等)
多功能型 (含有滤波、调相位、混频、衰减、检波、限幅等)
4) 按尺寸大小分为:
标准型 (N、UHF…)
小型 (BNC、TNC…)
超小型 (SMA、SMB、SMC、MCX、BMA…)
微型 (SSMA、SSMB、MMCX…)
以上关于射频测试头的分类就为大家分享到这里,希望这篇文章对大家有所帮助。如果还有其他关于射频测试头的问题想要了解,可以关注谷连精密或给小编留言,我们期待与您一起探讨!